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ParticleX Battery 是飛納推出的鋰電清潔度分析係統，可用於磷酸鐵鋰材料中的金屬異物識別、成分分析和分類統計。 ParticleX Battery 基於掃描電鏡與能譜分析方法，可自動識別、分析和統計銅、鋅、鐵等金屬異物，適合鋰電池原材料、正負極材料及生產質控環節的清潔度管控。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於纖維材料截麵觀察，幫助分析纖維截麵形貌、表麵結構和缺陷特征。 Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優於 8 nm，適用於日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於研發實驗室形貌分析，幫助獲取多類材料樣品的微觀圖像。 Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優於 8 nm，適用於日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

Phenom Pharos G2 是飛納推出的台式場發射掃描電鏡，可用於催化劑顆粒形貌觀察，幫助分析顆粒尺寸、表麵結構和分散狀態。 Phenom Pharos G2 采用肖特基熱場發射電子槍，電子光學放大倍數可達 2,000,000 X，分辨率優於 1.5 nm，適合對高分辨形貌、精細結構和微納尺度特征有要求的研發與檢測場景。

Phenom ProX G7 是飛納推出的台式掃描電鏡能譜一體機，可用於藥物顆粒異物分析，幫助觀察顆粒形貌並輔助判斷元素組成。 Phenom ProX G7 電子光學放大倍數可達 350,000 X，分辨率優於 6 nm，采用 CeB6 燈絲，並集成掃描電鏡成像與能譜分析能力，適合形貌觀察、微區元素分析和材料研發檢測。